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EXCEED-6000系列分选机

用于Functional Test 的IC测试分类，具有高产能、高稳定性。支持IC芯片在不同环境（常温、高温），进行8site 并行测试分选。
EXCEED-8000系列分选机

用于Functional Test 的IC测试分类，具有高产能、高稳定性。支持IC芯片在不同的温度（常温、高温、低温）环境下，进行16site 并行测试分选。可实现高精度的温度控制。
NEOCEED-8000系列分选机

用于Function Test的料管式包装的IC测试分类，具有高产能、高稳定性等特征。最多支持16工位同测、支持常温、高温测试要求。
EXCEED-9800系列分选机

用于Function Test的IC测试分类，具有高产能、高稳定性、高精度温度控制等特征。最多支持16工位同测，支持常温、高温、低温测试要求。
SUMMIT-3000系列分选机

用于System Level Test的IC测试分类，具有高产能、高稳定性等特征。可支持6/12/16工位同测，支持常温、高温、低温测试要求。
COLLIE-300系列分选机

用于实验室环境的IC测试分类，具备体积��，集成化高等特征。兼容ATE测试机与SLT测试板设计，最多支持2工位同测，支持常温、高温、低温测试要求。